QPSI快速機(jī)械移相模式可以在常見的振動環(huán)境下進(jìn)行高精度計(jì)量

振動波紋效應(yīng)淹沒真實(shí)的測試結(jié)果

同樣的測試條件下，通過ZYGO*新的QPSI測量技術(shù)獲得的數(shù)據(jù)

關(guān)鍵特點(diǎn):

?消除振動引起的波紋和條紋

?與經(jīng)典的機(jī)械移相模式（PSI）具有同樣的測量精度

?無需校準(zhǔn)、無需改變設(shè)置

?該功能可以通過鼠標(biāo)快速切換

當(dāng)防抖功能引入數(shù)碼相機(jī)后，大大減少了由于抖動導(dǎo)致的廢片。新技術(shù)消除了大部分抖動影響，大幅提高了照片成像質(zhì)量。

在精密干涉計(jì)量領(lǐng)域，有非常類似的問題，環(huán)境振動毀了無數(shù)次的測量，如右圖所示。振動明顯的影響測試結(jié)果和空間頻率分析，如果不能準(zhǔn)確測試是很難做出高質(zhì)量的光學(xué)元件的。做個(gè)隔離罩使干涉儀與振動源隔離，或者購買動態(tài)干涉儀是目前現(xiàn)有的昂貴的解決方案。

對于許多光學(xué)設(shè)備來說，ZYGO的QPSI?技術(shù)是一個(gè)真正的突破。因?yàn)樗顺Ｒ娬駝釉吹恼駝佑绊懀谀?*次按測量按鈕的時(shí)候即可獲得可靠的計(jì)量數(shù)據(jù)。QPSI測量無需特殊設(shè)置和校準(zhǔn)，測量時(shí)間周期在一秒鐘或者兩次標(biāo)準(zhǔn)的PSI測量之間。

ZYGO很高興為您提供基于標(biāo)準(zhǔn)的干涉儀系統(tǒng)的QPSI測量模式，Verifire? QPZ 和 DynaFiz?系統(tǒng)。所有這些系統(tǒng)都是操作簡便的真正共光路的斐索型激光干涉儀，可以作為工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)的可靠計(jì)量-為大部分面形測量的優(yōu)選解決方案。

QPSI簡化生產(chǎn)計(jì)量

帶QPSI模式的ZYGO干涉儀具有可以在通常的振動源引起的振動環(huán)境下進(jìn)行高精度測量的能力，例如發(fā)動機(jī)，電機(jī)馬達(dá)，機(jī)械泵，鼓風(fēng)機(jī)，人員走動等振動源。除非您的工廠完全沒有這些振動源的影響，否則您的業(yè)務(wù)都將會受益于QPSI測試技術(shù)。

雖然QPSI可以完全解決許多常見的振動問題，仍然有些極端振動環(huán)境或者氣流擾動會要求使用另外一種ZYGO的DynaFiz?的DynaPhase?動態(tài)模式來解決。ZYGO可以幫助您判斷適合您的*佳測試方案。請聯(lián)系我們獲得專家建議和產(chǎn)品演示。